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Über Leitfähigkeitsmessungen im System ZrO 2 –MgO

1959; Wiley; Volume: 63; Issue: 8 Linguagem: Alemão

10.1002/bbpc.19590630813

0372-8382

E. Kauer, O. E. Klinger, A. Rabenau,

Semiconductor materials and devices

Abstract Die elektrische Leitfähigkeit von reinem ZrO 2 sowie im System ZrO 2 –MgO wurde als Funktion der Temperatur im Bereich von 500–1500 °C gemessen. Ferner wurden Thermokraftmessungen durchgeführt, die in sämtlichen Fällen positive Ladungsträger anzeigen. Die Meßergebnisse bestätigen, daß die Leitfähigkeit – zumindest beim Sauerstoffpartialdruck der Luft – vorzugsweise von Sauerstofflücken getragen wird. Es wird gezeigt, daß bei Kenntnis des Leitungsmechanismus der Verlauf der Leitfähigkeit in Abhängigkeit von Temperatur und Zeit als eine empfindliche Methode zur Verfolgung der hier vorkommenden Festkörperreaktionen benutzt werden kann und nicht nur Auskunft über die Phasenverhältnisse gibt, sondern auch einen Einblick in den zeitlichen Verlauf der Umsetzungen gestattet.