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Capítulo de livro Acesso aberto Revisado por pares
BIBTEX RIS

Using a Maximum Uncertainty LDA-Based Approach to Classify and Analyse MR Brain Images

2004; Springer Science+Business Media; Linguagem: Inglês

10.1007/978-3-540-30135-6_36

ISSN

1611-3349

Autores

Carlos Eduardo Thomaz, James P. Boardman, David Hill, Joseph V. Hajnal, A. David Edwards, Mary Rutherford, Duncan Gillies, Daniel Rueckert,

Tópico(s)

Fault Detection and Control Systems

Referência(s)