Portal de Periódicos da CAPES

Tomografía del módulo y la fase de un haz focalizado de infra-rojo para medidas de caracterización nanofotónica

2012; Volume: 45; Issue: 2 Linguagem: Espanhol

2171-8814

Manuel Silva López, José María Rico García, Javier Alda,

Laser Material Processing Techniques

En esta contribucion se presentan los mapas de intensidad y fase de un haz laser en las cercanias del plano focal de una lente. Los mapas de irradiancia se obtienen a traves de un metodo tomografico basado en la tecnica knife-edge, y los mapas de fase se extraen usando un algoritmo basado en la ecuacion de transporte de irradiancia. Conocer la distribucion de la amplitud y la fase del haz incidente es importante para la caracterizacion de dispositivos nanofotonicos (como detectores basados en antenas), sensibles a estos parametros. Este metodo evita el uso de camaras en condiciones de baja resolucion.