
Propriedades eletricas da liga alxga1 - xas dopada com silicio
1994; UNIVERSIDADE ESTADUAL DE LONDRINA; Volume: 14; Issue: 4 Linguagem: Português
10.5433/1679-0375.1994v14n4p329
ISSN1679-0359
AutoresIvan Frederico Lupiano Dias, Rogério Chaves Miranda, Alfredo Gontijo de Oliveira,
Tópico(s)Copper Interconnects and Reliability
ResumoDiscutimos a influ e ncia das condi co es de crescimento, concentra ca o de dopantes e composi ca o sobre as propriedades el e tricas de amostras da liga tern a ria Al x Ga 1-x As dopada com Sil i cio, preparadas pela t e cnica de epitaxia por feixe molecular (MBE).
Referência(s)