Film thickness effect on fractality of tin-doped In2O3 thin films
2015; Springer Science+Business Media; Volume: 11; Issue: 5 Linguagem: Inglês
10.1007/s13391-015-4280-1
ISSN2093-6788
AutoresŞtefan Ţălu, Sebastian Stach, Davood Raoufi, Fayegh Hosseinpanahi,
Tópico(s)Theoretical and Computational Physics
Referência(s)