Artigo Revisado por pares

Film thickness effect on fractality of tin-doped In2O3 thin films

2015; Springer Science+Business Media; Volume: 11; Issue: 5 Linguagem: Inglês

10.1007/s13391-015-4280-1

ISSN

2093-6788

Autores

Ştefan Ţălu, Sebastian Stach, Davood Raoufi, Fayegh Hosseinpanahi,

Tópico(s)

Theoretical and Computational Physics

Referência(s)
Altmetric
PlumX