Artigo Revisado por pares

Auger electron spectroscopy

1971; Elsevier BV; Volume: 25; Issue: 1 Linguagem: Inglês

10.1016/0039-6028(71)90210-x

ISSN

1879-2758

Autores

C. C. Chang,

Tópico(s)

Semiconductor materials and devices

Referência(s)
Altmetric
PlumX