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Artigo Revisado por pares
BIBTEX RIS

High resolution transmission electron microscopy (HRTEM) of epitaxially grown ZnSe and ZnSe/GaAs interfaces

1984; Springer Science+Business Media; Volume: 3; Issue: 3 Linguagem: Inglês

10.1007/bf00726789

ISSN

1573-4811

Autores

John O. Williams, E. Sian Crawford, Jermaine L. Jenkins, T.L. Ng, Anthony M. Patterson, Michael Scott, B. Cockayne, P.J. Wright,

Tópico(s)

Semiconductor materials and interfaces

Referência(s)