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Artigo Revisado por pares
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Grain boundary diffusion and growth of titanium silicide layers on silicon

1990; Springer Science+Business Media; Volume: 19; Issue: 11 Linguagem: Inglês

10.1007/bf02673330

ISSN

1543-186X

Autores

Yunji L. Corcoran, Alexander H. King, N. de Lanerolle, Bong‐Gi Kim,

Tópico(s)

Aluminum Alloys Composites Properties

Referência(s)
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Journal of Electronic Materials
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