
Fault Modeling and Simulation of Power Supply Voltage Transients in Digital Systems on a Chip
2005; Springer Science+Business Media; Volume: 21; Issue: 4 Linguagem: Inglês
10.1007/s10836-005-0972-z
ISSN1573-0727
AutoresD.B. Junior, M. Rodriguez-Irago, Marcelino Santos, I.C. Teixeira, F. Vargas, J.P. Teixeira,
Tópico(s)Radiation Effects in Electronics
Referência(s)