Non-destructive study of the ion-implantation-affected zone (the long-range effect) in titanium nitride
1994; Elsevier BV; Volume: 66; Issue: 1-3 Linguagem: Inglês
10.1016/0257-8972(94)90034-5
ISSN1879-3347
AutoresA.J. Perry, James R. Treglio, J.P. Schaffer, J. Brunner, V. Valvoda, David Rafaja,
Tópico(s)Semiconductor materials and devices
Referência(s)