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Artigo Revisado por pares
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Nanostructured chromium nitride films with a valley of residual stress

2004; Elsevier BV; Volume: 472; Issue: 1-2 Linguagem: Inglês

10.1016/j.tsf.2004.06.116

ISSN

1879-2731

Autores

Z. B. Zhao, Z. U. Rek, S. M. Yalisove, J. C. Bilello,

Tópico(s)

GaN-based semiconductor devices and materials

Referência(s)
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Thin Solid Films
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