Layout of a nuclear microprobe beamline using a liquid metal ion source
1997; Elsevier BV; Volume: 130; Issue: 1-4 Linguagem: Inglês
10.1016/s0168-583x(97)00267-x
ISSN1872-9584
AutoresJ. Adamczewski, D Löffelmacher, Jan Meijer, A. Stephan, H.H. Bukow, C. Rolfs,
Tópico(s)Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Referência(s)