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Artigo Revisado por pares
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Spectroscopic Characterization of Buried Interfaces Using Soft X‐ray Standing Waves

2004; Taylor & Francis; Volume: 17; Issue: 3 Linguagem: Inglês

10.1080/08940880408603091

ISSN

1931-7344

Autores

See‐Hun Yang, B. S. Mun, C. S. Fadley,

Tópico(s)

Surface and Thin Film Phenomena

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