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Artigo Revisado por pares
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Local bond breaking via STM-induced excitations: the role of temperature

1997; Elsevier BV; Volume: 390; Issue: 1-3 Linguagem: Inglês

10.1016/s0039-6028(97)00507-4

ISSN

1879-2758

Autores

B. N. J. Persson, Phaedon Avouris,

Tópico(s)

Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design

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