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Artigo
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Analysis of the 3-dimensional electron distribution in silicon using directional Compton profile measurements

1987; Springer Nature; Volume: 66; Issue: 3 Linguagem: Inglês

10.1007/bf01305420

ISSN

1431-584X

Autores

N. K. Hansen, Philip Pattison, J. R. Schneider,

Tópico(s)

Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques

Referência(s)