Artigo Acesso aberto

STRUCTURAL PROPERTIES OF a-Si AND a-Si : H BY EXAFS

1986; EDP Sciences; Volume: 47; Issue: C8 Linguagem: Inglês

10.1051/jphyscol

ISSN

2777-3418

Autores

A. Filipponi, D. Della Sala, F. Evangelisti, A. Balerna, S. Mobilio,

Tópico(s)

Semiconductor materials and interfaces

Resumo

A comparative EXAFS s t u d y of t h e f i r s t -s h e l l s i g n a l s of c-Si, a-Si and a-Si:H is presented.First-neighbour coordination, d i s t a n c e and Debye-Waller f a c t o r a r e reported and discussed.

Referência(s)