Voltar
Artigo Revisado por pares
BIBTEX RIS

Refractive Indices of Silsesquioxanes with Various Structures

2014; Springer Science+Business Media; Volume: 7; Issue: 2 Linguagem: Inglês

10.1007/s12633-014-9239-6

ISSN

1876-9918

Autores

Hisayuki Endo, Nobuhiro Takeda, Masanori Takanashi, Takafumi Imai, Masafumi Unno,

Tópico(s)

Metal and Thin Film Mechanics

Referência(s)
Ver no editor
Silicon
Altmetric
PlumX