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Artigo Revisado por pares
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Detection of Thiophanate-methyl-resistant Strains in Diplocarpon mail, Causal Fungus of Apple Blotch

2000; Springer Science+Business Media; Volume: 66; Issue: 1 Linguagem: Inglês

10.1007/pl00012926

ISSN

1610-739X

Autores

Shuhei Tanaka, Nobue KAMEGAWA, Shin‐ichi Ito, Mitsuro KAMEYA-IWAKI,

Tópico(s)

Yeasts and Rust Fungi Studies

Referência(s)