Publication and related bias in meta-analysis
2000; Elsevier BV; Volume: 53; Issue: 11 Linguagem: Inglês
10.1016/s0895-4356(00)00242-0
ISSN1878-5921
AutoresJonathan A C Sterne, David J. Gavaghan, Matthias Egger,
Tópico(s)Reliability and Agreement in Measurement
Referência(s)