Artigo
Revisado por pares
Relevance of nonlinear lumped-parameter models in the analysis of depth-EEG epileptic signals
2000; Springer Science+Business Media; Volume: 83; Issue: 4 Linguagem: Inglês
10.1007/s004220000160
ISSN1432-0770
AutoresFabrice Wendling, Jean-Jacques Bellanger, Fabricē Bartolomei, Patrick Chauvel,
Tópico(s)Electrochemical Analysis and Applications
Referência(s)