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Artigo
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Practical electrical contact resistance measurement method for bulk thermoelectric devices

2013; Cambridge University Press; Volume: 1490; Linguagem: Inglês

10.1557/opl.2012.1730

ISSN

1946-4274

Autores

Rahul Gupta, Robin McCarty, Jim Bierschenk, Jeff Sharp,

Tópico(s)

Chalcogenide Semiconductor Thin Films

Referência(s)
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MRS Proceedings
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