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Artigo Acesso aberto Revisado por pares
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Charge collection efficiency and resolution of an irradiated double-sided silicon microstrip detector operated at cryogenic temperatures

2000; Elsevier BV; Volume: 440; Issue: 1 Linguagem: Inglês

10.1016/s0168-9002(99)00800-1

ISSN

1872-9576

Autores

K. Borer, Ŝ. Jánoŝ, V.G. Palmieri, J. Buytaert, V. Chabaud, P. Chochula, P. Collins, H. Dijkstra, T. Niinikoski, C. Lourenço, C. Parkes, S. Saladino, T. Ruf, V. Granata, S. Pagano, Fabio Vitobello, W. H. Bell, P. Bartalini, Olivier Dormond, Regina Frei, L. Casagrande, T. J. V. Bowcock, I. Barnett, C. Da Viá, I. Konorov, S. Paul, L. Schmitt, G. Ruggiero, I. Stavitski, Antonio Espósito,

Tópico(s)

Radiation Effects in Electronics

Referência(s)