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Artigo
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Interpretation of AES depth profiles of porous Al anodic oxides

1980; Elsevier BV; Volume: 5; Issue: 4 Linguagem: Inglês

10.1016/0378-5963(80)90105-1

ISSN

1878-1071

Autores

Tairen Sun, D.K. McNamara, J. S. Ahearn, J.M. Chen, B. M. Ditchek, J. D. Venables,

Tópico(s)

Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques

Referência(s)
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Applications of Surface Science
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