Artigo Acesso aberto

Mécanismes d'anisotropie dans la gravure du silicium en plasma SF6. Modèle de gravure

1986; EDP Sciences; Volume: 21; Issue: 6 Linguagem: Francês

10.1051/rphysap

ISSN

2777-3671

Autores

Barbara Petit, Jacques Pelletier,

Tópico(s)

Laser-induced spectroscopy and plasma

Resumo

Les mécanismes de gravure du silicium en plasma de SF6 sont étudiés aux basses pressions et aux faibles énergies ioniques dans un Plasma Multipolaire Micro-onde.L'analyse des profils obtenus sur des motifs gravés et celle des produits de réaction détectés par spectrométrie de masse montre comment la vitesse de gravure et l'anisotropie évoluent en fonction de la pression.En particulier, on observe une transition régime isotroperégime anisotrope pour une valeur critique de la pression.Pour expliquer les résultats expérimentaux obtenus, une nouvelle interprétation des mécanismes de surface intervenant en gravure plasma est proposée.Afin de rendre cohérents les modèles existants, il est nécessaire de leur adjoindre trois hypothèses supplémentaires, à savoir : i) existence de fortes interactions répulsives entre atomes de fluor adsorbés proches voisins; ii) diffusion en surface des espèces adsorbées ; iii) modèle d'adsorption multicouches pour le système Si/F.Le traitement ana- lytique du modèle met en évidence que la vitesse de gravure est limitée par la pression partielle de fluor atomique dans le plasma, tandis que l'anisotropie est contrôlée par la densité de courant ionique.

Referência(s)