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Artigo Revisado por pares
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Quantitative analysis of HOLZ line splitting in CBED patterns of epitaxially strained layers

2006; Elsevier BV; Volume: 106; Issue: 10 Linguagem: Inglês

10.1016/j.ultramic.2006.04.011

ISSN

1879-2723

Autores

Florent Houdellier, C. Roucau, L. Clément, Jean‐Luc Rouvière, M.J. Casanove,

Tópico(s)

Semiconductor materials and devices

Referência(s)