Artigo Revisado por pares

Work function of ITO substrates and band-offsets at the TPD/ITO interface determined by photoelectron spectroscopy

2000; Elsevier BV; Volume: 111-112; Linguagem: Inglês

10.1016/s0379-6779(99)00355-0

ISSN

1879-3290

Autores

L. Chkoda, Clemens Heske, M. Sokołowski, E. Umbach, Friedrich W. Steuber, J. Staudigel, M. Stößel, J. Simmerer,

Tópico(s)

Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques

Referência(s)
Altmetric
PlumX