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Electrical and magnetic properties of amorphous NixAg1−x thin films

1987; Wiley; Volume: 101; Issue: 2 Linguagem: Inglês

10.1002/pssa.2211010221

1521-396X

A. Zeghib, L. le Bas, C. Vautier,

Theoretical and Computational Physics

Resistivity and Hall effect measurements on NixAg1−x thin films prepared by RF sputtering enable to determine Curie temperature and its variation with at % of Ag for ferromagnetic films and effective number of conduction electrons for paramagnetic samples. Des mesures de résistivité et d'effet Hall sur des couches minces de NixAg1−x préparés par pulvérisation RF ont permis de déterminer la température de Curie et sa variation avec le %at d'Ag pour les échantillons ferromagnétiques et le nombre effectif d'électrons de conduction pour les échantillons paramagnétiques.