Complex resistivity tomography for environmental applications
2000; Elsevier BV; Volume: 77; Issue: 1-2 Linguagem: Inglês
10.1016/s1385-8947(99)00135-7
ISSN1873-3212
AutoresAndreas Kemna, Andrew Binley, Abelardo Ramirez, William Daily,
Tópico(s)Seismic Waves and Analysis
Referência(s)