U-stage and EBSD technique as complementary methods

2009; Sociedade Brasileira de Geologia; Volume: 39; Issue: 1 Linguagem: Inglês

10.5327/rbg.v39i1.1444

ISSN

2317-4889

Autores

Cristiane C. Gonçalves, Leonardo Lagoeiro,

Tópico(s)

Microstructure and Mechanical Properties of Steels

Resumo

In the last years, the electronic microscopy has become an important tool to textural analyses of mineral aggregates. The electron backscattering diffraction (EBSD) has been used to determine preferred ori- entation patterns quickly in areas statistically representative. However, when the grain boundary geometry and their orientations are considered, there is not a way to determine the grain boundary orientation individually for EBSD, what is possible using U-stage mounted on a petrographic microscope. The geometry and grain bound- ary orientation pattern constitute important microstructural and textural parameters. They are directly related to deformational processes occurred during evolution and stabilization of mineral aggregates, as well as their physical properties. Therefore, when the microfabric is characterized is necessary, besides a complete charac- terization of crystallographic preferred orientation, to have individual control of geometry and grain boundary segments orientation. In this sense, the use of U-stage, although there are restrictions, is fundamental. This method allows the determination of grain boundary plane orientation, individually, while the EBSD permit a global analyze related to misorientation studies between those grains that share a boundary plane. Therefore, the methodology to characterization of grain boundary orientation patterns is presented. The referred methods are applied as complementary techniques, what allows the characterization of 5 degrees of freedom neces- sary to determine a boundary surface: the grain boundary plane orientation and the distribution of angle/axes misorientation pair. The data were obtained in quartz aggregates, which came from banded iron formation, in Quadrilatero Ferrifero (MG). Resumo Platina Universal e tecnica de eletrons retroespalhados difratados como metodos com- plementares. Nos ultimos anos, o uso de microscopia eletronica para analise textural de agregados minerais, por difracao de eletrons retroespalhados (EBSD), tem se tornado importante meio para se determinar padroes de orientacoes preferenciais de maneira rapida e estatisticamente representativa. Entretanto, ao se considerar a geometria de borda dos graos, nao ha como determinar a orientacao das superficies de borda, individualmente, por EBSD, o que se pode fazer atraves de platina universal acoplada a um microscopio otico. A geometria e padrao de orientacao das bordas dos graos constituem importantes parâmetros microestrutural e textural que estao diretamente relacionados aos processos deformacionais ocorridos durante evolucao e estabilizacao de determinado agregado, bem como as suas propriedades fisicas. Portanto, ao se caracterizar a microtrama de um agregado e necessario que alem de uma completa determinacao das orientacoes cristalograficas preferenciais, se tenha controle da geometria e orientacao dos segmentos de borda que limitam os graos. Para tal, o uso da platina universal, apesar das restricoes, e fundamental, ja que permite a determinacao das orientacoes das su- perficies de borda individualmente, enquanto por EBSD tem-se uma analise global da relacao de desorientacao entre os graos que compartilham uma borda. Nesse contexto, apresenta-se a metodologia para caracterizacao de padroes de orientacao de bordas, aplicando os referidos metodos como tecnicas complementares, o que permite a caracterizacao dos 5 graus de liberdade necessarios: orientacao do plano de borda, distribuicao e orientacao do par eixo-ângulo de desorientacao. Para tal foram utilizados agregados de quartzo provenientes de formacoes ferriferas bandadas do Quadrilatero Ferrifero (MG). Palavras-chave: textura, microestruturas, geometria de borda, preparacao de amostras para EBSD, platina universal.

Referência(s)
Altmetric
PlumX