Deep Level Transient Spectroscopy Study of Thin Film Diamond

1989; Cambridge University Press; Volume: 162; Linguagem: Inglês

10.1557/proc-162-309

ISSN

1946-4274

Autores

K. Srikanth, S. Ashok, Wanlin Zhu, Andrzej Badzian, R. Messier,

Tópico(s)

Advanced Surface Polishing Techniques

Referência(s)
Altmetric
PlumX