Artigo Revisado por pares

Spectroscopic Investigation of the Er Site in GaAs:Er

1992; Trans Tech Publications; Volume: 83-87; Linguagem: Inglês

10.4028/www.scientific.net/msf.83-87.665

ISSN

1662-9760

Autores

P. B. Klein, Fred G. Moore, H.B. Dietrich,

Tópico(s)

Silicon Carbide Semiconductor Technologies

Referência(s)
Altmetric
PlumX