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Artigo Revisado por pares
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Thermal Degradation Behavior of Indium Tin Oxide Thin Films Deposited by Radio Frequency Magnetron Sputtering

2005; Springer Nature; Volume: 20; Issue: 6 Linguagem: Inglês

10.1557/jmr.2005.0199

ISSN

2044-5326

Autores

Yong-Nam Kim, Hyun‐Gyoo Shin, Jun‐Kwang Song, Dae-Hyoung Cho, Heesoo Lee, Yeon‐Gil Jung,

Tópico(s)

Gas Sensing Nanomaterials and Sensors

Referência(s)