Correlations Between YBa2Cu3O7-δ Thin Film Materials Properties and RF Device Performance

1997; Cambridge University Press; Volume: 474; Linguagem: Inglês

10.1557/proc-474-99

ISSN

1946-4274

Autores

T. Kaplan, Murcia Salazar, Qiang Huang, A.T. Barfknecht, Zhou Lu,

Tópico(s)

Acoustic Wave Resonator Technologies

Referência(s)
Altmetric
PlumX