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OCORRÊNCIA E CARACTERIZAÇÃO DO AMIDO RESISTENTE EM AMIDOS DE MILHO E DE BANANA

1998; Sociedade Brasileira de Ciência e Tecnologia de Alimentos; Volume: 18; Issue: 2 Linguagem: Português

10.1590/s0101-20611998000200019

1678-457X

Mariá Andrade Teixeira, C. F. Ciacco, Débora Q. Tavares, Alexandre N. BONEZZI,

Food composition and properties

No presente trabalho foi estudada a ocorrência de Amido Resistente (AR) em amidos de milho e de banana (naturalmente resistente) e investigado o efeito das variáveis: umidade de condicionamento, tempo e temperatura de armazenamento dos géis, na formação do AR em amido normal de milho; além das características físico-químicas e a estrutura fina do AR de milho e de banana. Foi observado que o teor de AR em amidos de milho e banana (2,5% e 49,61%, respectivamente) parece não estar relacionada com a composição química do grânulo. O amido de banana apresentou grânulos com certo poliformismo, padrão de raio-x tipo B, além de uma fração linear de DP 34 resistente à b -amilólise. A estrutura cristalina que mantém o grânulo do amido de banana coeso, por si só, não explicou o alto teor de AR encontrado. O amido de milho normal apresentou formas poliédricas e padrão difração em raio-x tipo A. Não foi observada a fração com DP 34 resistente à b -amilólise, apesar da sua maior coesividade quando comparado ao amido de banana. O tratamento hidrotérmico aplicado no amido normal de milho quase triplicou o teor de AR (7,15%) devido à formação de estruturas cristalinas coesas. O AR de milho (7,15% de AR), constituído por fragmentos porosos, apresentou padrão de difração tipo C. A não significância do tempo de armazenamento dos géis na produção do AR e a fração linear com DP 34 resistente à b -amilólise presente nos cromatogramas, sugerem a participação da amilose na formação desta estrutura resistente.