Artigo
Measurement of Valence Band Offset in Strained Ge x Si 1−x /Si Heterojunctions
1991; Cambridge University Press; Volume: 220; Linguagem: Inglês
10.1557/proc-220-181
ISSN1946-4274
AutoresS. Khorram, C. H. Chern, K. L. Wang,
Tópico(s)Photonic and Optical Devices
Referência(s)