Voltar
Artigo Revisado por pares
BIBTEX RIS

Progress Towards Improved Analysis of TES X-ray Data Using Principal Component Analysis

2015; Springer Science+Business Media; Volume: 184; Issue: 1-2 Linguagem: Inglês

10.1007/s10909-015-1357-z

ISSN

1573-7357

Autores

S. E. Busch, J. S. Adams, S. R. Bandler, J. A. Chervenak, Megan E. Eckart, F. M. Finkbeiner, D. J. Fixsen, Richard L. Kelley, C. A. Kilbourne, Sang‐Jun Lee, S. H. Moseley, J.-P. Porst, F. S. Porter, J. E. Sadleir, S. J. Smith,

Tópico(s)

Advanced Semiconductor Detectors and Materials

Referência(s)