Artigo Acesso aberto Revisado por pares

Frequency dependence of the penetration depth in attenuated total reflection-IR spectroscopy.

1992; Japan Society for Analytical Chemistry; Volume: 41; Issue: 4 Linguagem: Inglês

10.2116/bunsekikagaku.41.4_t49

ISSN

0525-1931

Autores

Akio Masui, Kiyoshi Yamamoto, Koji Ohta,

Tópico(s)

Spectroscopy and Chemometric Analyses

Resumo

全反射赤外吸収法(ATR-IR)における光の電場の侵入深さを実際の試料(CR39ポリマー)について計算した結果を示し,これが試料の光学定数の波数変化,スペクトルの形とどのような関係にあるかについて詳細に検討した.光の電場の侵入深さは試料内に誘起される光電場の減衰項から計算し,ATR-IRスペクトルはFresnelの式を用いて計算した.ATR吸収ピークの直近低波数側と高波数側に現れる電場の侵入深さの極大と極小の波数位置と,それらの極大・極小が試料を透明体とする近似からどの程度ずれているかについて具体的に示した.又,吸収波数領域で試料中に屈折した光エネルギーが試料の深さ方向にどのように減衰していくかについても,光電場の式に基づいて計算して示した.得られた計算結果は,厚み方向に不均一な試料や薄膜試料のATRスペクトルの解釈に注意が必要であることを示している.

Referência(s)
Altmetric
PlumX