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Análise da radiação espalhada do perfil de dose em tomografia computadorizada utilizando detector semicondutor

2010; Volume: 4; Issue: 3 Linguagem: Português

10.29384/rbfm.2010.v4.n3.p31-34

2176-8978

C. M. S. de Magalhães, Marília C. Sobrinho, Divanízia N. Souza, Luiz A. P. Santos,

Advanced X-ray and CT Imaging

A dosimetria em tomografia computadorizada e feita, principalmente, utilizando uma câmara de ionizacao tipo lapis de 100 mm de extensao. No entanto, tem-se questionado bastante a eficacia desse metodo na coleta de toda radiacao espalhada do perfil de dose e uma nova forma de avaliacao dosimetrica tem sido sugerida. Ela envolve a utilizacao de detectores menores efetuando multiplas varreduras do feixe de raios X. Neste trabalho, o perfil de dose foi avaliado em um simulador dosimetrico de cabeca utilizando um dispositivo semicondutor, o fototransistor OP520. Os dispositivos foram dispostos em dois arranjos de detectores diferentes -com 2 e 4 fototransistores- e foram submetidos a uma varredura de 170 mm de extensao. Uma câmara lapis submetida as mesmas condicoes de irradiacao foi utilizada para efetuar uma comparacao dos dados. Os resultados confirmaram que os 100 mm nao sao suficientes para coletar toda radiacao espalhada do perfil de dose e mostraram que os fototransistores podem ser uteis para dosimetria em tomografia computadorizada.