Artigo Revisado por pares

Induction of ferroelectricity in nanoscale ZrO2/HfO2 bilayer thin films on Pt/Ti/SiO2/Si substrates

2016; Elsevier BV; Volume: 115; Linguagem: Inglês

10.1016/j.actamat.2016.05.029

ISSN

1873-2453

Autores

Ying-Chou Lu, Jay Shieh, Feng‐Yu Tsai,

Tópico(s)

Ferroelectric and Piezoelectric Materials

Referência(s)
Altmetric
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