Artigo Revisado por pares

Thin SiC x layers prepared by hybrid laser–magnetron deposition

2008; Springer Science+Business Media; Volume: 93; Issue: 3 Linguagem: Inglês

10.1007/s00339-008-4727-4

ISSN

1432-0630

Autores

M. Jelı́nek, T. Kocourek, J. Zemek, Michal Novotný, J. Kadlec,

Tópico(s)

Copper Interconnects and Reliability

Referência(s)
Altmetric
PlumX