Artigo
Revisado por pares
Ilościowa analiza mikrostrukturalna w skaningowym mikroskopie elektronowym (SEM) typowych gruntów Polski
1997; Volume: 46; Issue: 7 Linguagem: Polonês
ISSN
2299-002X
AutoresRyszard Kaczyński, Jerzy Trzciński,
Tópico(s)Geotechnical and Mining Engineering
Referência(s)