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Artigo Revisado por pares
BIBTEX RIS

Measurement of the Parameters of On-Wafer Semiconductor Devices

2016; Springer Science+Business Media; Volume: 59; Issue: 7 Linguagem: Inglês

10.1007/s11018-016-1044-8

ISSN

1573-8906

Autores

Aleksandr A. Savin, Vladimir G. Guba, Olesia N. Bykova,

Tópico(s)

Radio Frequency Integrated Circuit Design

Referência(s)
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Measurement Techniques
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