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Artigo Revisado por pares
BIBTEX RIS

Mechanical strain induced changes in electrical characteristics of flexible, non-volatile ferroelectric OFET based memory

2016; Elsevier BV; Volume: 40; Linguagem: Inglês

10.1016/j.orgel.2016.10.036

ISSN

1878-5530

Autores

Damien Thuau, Mamatimin Abbas, Guillaume Wantz, Lionel Hirsch, Isabelle Dufour, Cédric Ayela,

Tópico(s)

Advanced Memory and Neural Computing

Referência(s)