Portal de Periódicos da CAPES

MEDIDAS DE ESPESSURA E ÍNDICE DE REFRAÇÃO EM FILMES DE MATERIAL FOTOSSENSÍVEL

1985; Volume: 4; Linguagem: Português

10.17563/rbav.v4i1-2.841

1983-4047

Camila Amaral Oliveira, S. A. A. Nobre,

Education and Digital Technologies

Neste trabalho apresentamos medidas de espessura eindece de refracao de filmes finos obtidos com Micro-Resist 747, da Kodak. Os filmes foram depositados por centrifugacao. O metodo utilizado permitiu a obtencao da curva: espessura do filme versus velocidade de rotacao da centrifugadora. A curva obtida foi comparada com a fornecida pelo fabricante do material fotossensivel.