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Spectroscopies Mӧssbauer, XPS et XAS : une association efficace pour l’étude des solides cristallins

1999; Dunod; Volume: 96; Issue: 9 Linguagem: Francês

10.1051/metal/199996091067

1156-3141

J.C. Jumas, Pierre‐Emmanuel Lippens, J. Olivier‐Fourcade, A. Gheorghiu-de la Rocque, ϯC Sénémaud, M. Womes, I. Lefebvre,

Chalcogenide Semiconductor Thin Films

L’utilisation de la spectroscopie Mössbauer associée à d’autres techniques expérimentales comme les spectroscopies de photo-électrons (XPS) ou d’absorption des rayons X (XAS) perme d’obtenir une représentation cohérente de la structure électronique globale. Pour développer cette idée, deux exemples concernant la structure électronique locale de Sn ou Sb dans des matériaux chalcogénures sont présentés.