Capítulo de livro

Range Distributions of Boron in Silicon Dioxide and the Underlying Silicon Substrate

1975; Springer Nature; Linguagem: Inglês

10.1007/978-1-4684-2151-4_25

Autores

K. Wittmaack, F. Schulz, B. Hietel,

Tópico(s)

Ion-surface interactions and analysis

Referência(s)
Altmetric
PlumX