Artigo Acesso aberto Revisado por pares

Search for neutrinoless decays τ → ℓ h h and τ → ℓ V 0

2006; Elsevier BV; Volume: 640; Issue: 4 Linguagem: Inglês

10.1016/j.physletb.2006.07.025

ISSN

1873-2445

Autores

Y. Yusa, K. Abe, K. Abe, I. Adachi, H. Aihara, Y. Asano, V. Aulchenko, A. Bay, U. Bitenc, I. Bizjak, S. Blyth, A. Bondar, T. E. Browder, A. Chen, B.G. Cheon, R. Chistov, Y. Choi, Y. Choi, A. Chuvikov, S. Cole, J. Dalseno, M. Dash, A. Drutskoy, S. Eidelman, S. Fratina, N. Gabyshev, T. Gershon, G. Gokhroo, A. Gorišek, H. C. Ha, J. Haba, K. Hayasaka, H. Hayashii, M. Hazumi, Y. Hoshi, W.-S. Hou, T. Iijima, K. Ikado, K. Inami, R. Itoh, M. Iwasaki, Y. Iwasaki, J.H. Kang, H. Kawai, T. Kawasaki, H. R. Khan, H. Kichimi, S. K. Kim, S. Korpar, P. Križan, R. Kulasiri, C.‐C. Jay Kuo, A. Kuzmin, Y.-J. Kwon, T. Lesiak, S.-W. Lin, D. Liventsev, G. Majumder, T. Matsumoto, W. Mitaroff, Y. Miyazaki, R. Mizuk, T. Nagamine, E. Nakano, Z. Natkaniec, S. Nishida, S. Ogawa, T. Ohshima, T. Okabe, S.L. Olsen, Y. Onuki, H. Ozaki, P. Pakhlov, H. Pałka, R. Pestotnik, L. E. Piilonen, Y. Sakai, N. Sato, T. Schietinger, O. Schneider, C. Schwanda, R. Seidl, K. Senyo, M. Shapkin, H. Shibuya, B. Shwartz, A. Sokolov, A. Somov, N. Soni, R. Stamen, S. Stanič, M. Starič, K. Sumisawa, O. Tajima, F. Takasaki, K. Tamai, M. Tanaka, G. N. Taylor, Y. Teramoto, X. C. Tian, T. Tsukamoto, S. Uehara, S. Uno, Y. Usov, G. Varner, S. Villa, E. Won, B. Yabsley, A. Yamaguchi, Y. Yamashita, M. Yamauchi, Z. Zhang,

Tópico(s)

Dark Matter and Cosmic Phenomena

Resumo

We have searched for neutrinoless tau lepton decays into l h h or l V0, where l stands for an electron or muon, h for a charged light hadron, pi or K, and V0 for a neutral vector meson, rho, K*(892) and phi, using a 158 /fb data sample collected with the Belle detector at the KEKB e+e- collider. Since the number of events observed are consistent with the expected background, we set upper limits on the branching fractions in the range of 1.6-8.0 x 10-7 for various decay modes at the 90% confidence level.

Referência(s)