Análisis espectral de heterojunturas SIS en base a silicio monocristalino, obtenidos por el método de crecimiento Spray
1993; Volume: 26; Issue: 1 Linguagem: Espanhol
ISSN
2171-8814
AutoresS. Aguilera, S. Zamora, M. Olcay, A. Fornes, T. Molina,
Tópico(s)Plant Surface Properties and Treatments
Resumose analiza espectralmente heterojunturas SIS de Silicio Monocristalino a traves de la curva de eficiencia cuantica expresada en porcentaje y de la respuesta o sensibilidad espectral dada en Ampere/Watt.
Referência(s)