Artigo
Analisis y medición de características temporales de fotodiodos de silicio monocristalino.
1993; Volume: 26; Issue: 2 Linguagem: Espanhol
ISSN
2171-8814
AutoresS. Aguilera, M. Olcay, S. Zamora, G. Santana, M. Navarro,
Tópico(s)Surface Roughness and Optical Measurements
Referência(s)