Caracterización de superficies texturadas de silicio mediante el uso de un reflectómetro diferencial.
1995; Volume: 28; Issue: 1 Linguagem: Espanhol
ISSN
2171-8814
AutoresA.‐K. Marel, C. Souweileh Arencibia, M. García,
Tópico(s)Archaeological and Geological Studies
ResumoEn este trabajo se utiliza la medicion de la distribucion espacial de la luz reflejada para la caracterizacion de superficies texturadas de silicio monocristalino y se describe el instrumento construido por nosotros para ese fin, al cual denominaremos Reflectometro Diferencial. Este equipo mide el flujo luminoso reflejado por la muestra en cualquier direccion espacial y diferentes longitudes de onda. Usando este metodo se explican los valores y peculiaridades de la reflectancia.
Referência(s)